手持式X射線熒光分析儀FAS 2980 Plus
無論是在現(xiàn)場還是在車間，Niton XL2 Plus 都能使您隨時應(yīng)對 挑戰(zhàn)的工業(yè)環(huán)境。操作人員可檢測各種材料，滿足不同分 析需求。識別純金屬和合金，檢測雜質(zhì)元素或獲取地球化學(xué)數(shù) 據(jù) - Niton XL2 Plus 隨時應(yīng)對各種分析挑戰(zhàn)。
Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結(jié)果。Niton XL2 Plus 通過專有2W X射線管、動態(tài)電流調(diào)節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供優(yōu)良靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質(zhì)效應(yīng)以獲 得準(zhǔn)確結(jié)果。
分析應(yīng)用

●驗證生產(chǎn)中使用的金屬和合金

●在質(zhì)量保證檢測中正確鑒別材料

●在廢料回收操作中進行自動分揀

●測量單個元件層的涂層厚度

●金銀和珠寶的貴金屬分析

●礦石貿(mào)易和等級控制的地球化學(xué)分析

●污染土壤的現(xiàn)場重金屬篩查

●工業(yè)設(shè)施漆層檢驗中的鉛檢測

●消費品中的有害物質(zhì)篩
技術(shù)優(yōu)勢
FAS 2980 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結(jié)果。FAS 2980 Plus 通過專有2W X射線管動態(tài)電流調(diào)節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供優(yōu)秀的靈敏度。FAS 2980 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質(zhì)效應(yīng)以獲 得準(zhǔn)確結(jié)果
手持式X射線熒光分析儀FAS 2980 Plus產(chǎn)品性能

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